ST-21L型方块电阻测试仪 采用大规模集成电路作为仪器的主要部分，测量准确稳定，低功耗； 以大屏幕LCD显示读数，直观清晰； 采用单个电池供电，带电池欠压指示； 体积≤175mmX90mmX42mm，重量≤300g； 特制之手握式探笔，球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜 探头带抗静电模块

ST-21型方块电阻测试仪以大规模集成电路为主要核心；用基准电源和运算放大器组成高精度稳流源；带回路有效正常指示电路；并配以大型LCD显示读数，使仪器具有体积小、重量轻、外形美、易操作、测量速度快、精度高的特点。

RTS-3型手持式四探针测试仪$n测量范围宽、精度高、稳定性好、结构紧凑、易操作的手持式设计；$n体积仅为：185mm（长）*90mm（宽）*30mm（高）；重量：350g；$n使用锂电池供电，一次充电可连续使用100小时；

RTS-2/RTS-2A型便携式四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M标准而设计的，于测量硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻的小型仪器。

PN-30型导电类型鉴别仪采用整流法（也称三探针法）和温差法（也称冷热探笔法来判断单晶（或多晶）硅的导电类型（N型或P型），用N型和P型显示屏直接显示单晶（或多晶）导电类型。 该仪器特别采用工控指示开关，显示清晰、经久耐用；可随机调零；自动加热、保温。具有体积小、重量轻、性能稳定、测试简便、准确可靠等优点。

PN-12型导电类型鉴别仪采用整流法（也称三探针法）和温差法（也称冷热探笔法来判断单晶（或多晶）硅的导电类型（N型或P型），用N型和P型显示屏直接显示单晶（或多晶）导电类型。 该仪器特别采用工控指示开关，显示清晰、经久耐用；可随机调零，温差法带有温控表。具有测量范围宽、体积小、重量轻、性能稳定、测试简便、准确可靠等优点。

LT-2型单晶少子寿命测试仪 是参考美国A.S.T.M标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量，是半导体的常规测试项目之一。本仪器灵敏度较高，配备有红外光源，可测量包括集成电路级硅单晶在内的各种类型硅单晶，以及经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等。

CV-2000型电容电压特性测试仪 作为组成半导体器件的基本结构的PN结具有电容效应（势垒电容）。加正向偏压时，PN结势垒区变窄，势垒电容变大；加反向偏压时，PN结势垒区变宽，势垒电容变小。

CV-5000型电容电压特性测试仪 在集成电路特别是MOS电路的生产和开发研制中，MOS电容的C-V测试是极为重要的工艺过程监控测试手段，通过C-V测试达到优化生产过程中的工艺参数，提高IC成品率。

100A/20A四探针金属/半导体电阻率测量仪是100A/20（及100A/2）的升级版，其为用户提供了使用100A/20进行四探针测试及实验的配套软件，可运行于PC机上，能兼容运行在Winxp和Win7系统中，用于自动获取实验台的实验数据，并根据条件生成曲线和报表，辅助实验人员自动完成实验，直观的分析数据，获得实验结论，保存实验数据。本产品的电阻测量范围可达10-6—106Ω。