WGL-8晶体电光调制实验仪由电场所引起的晶体折射率的变化，称为电光效应．通过利用典型的LiNbO3晶体横向电光效应原理的激光振幅调制器的使用，掌握晶体电光调制的原理和实验方法；学会用简单的实验装置测量晶体半波电压，电光常数；观察电光效应引起的晶体光学特性的变化和会聚偏振光的干涉现象；进行激光通信演示实验。

WGL-3脉冲调QNd：YAG倍频激光器实验装置 该实验系统让学生通过自己动手装调激光器，掌握激光器的基本结构、主要参数、输出特性、调整方法、以及调Q、选模、倍频等。使学生对激光器的原理，激光技术有较全面的认识。

WGL-2半导体泵浦激光原理实验装置适用于大学近代物理教学中非线性光学实验，本实验以808nm半导体泵浦Nd：YVO4激光器为研究对象，让学生自己动手，调整激光器光路。在谐振腔中插入KTP晶体产生532nm倍频光，观察倍频现象，测量相位匹配角，阈值等基本参数。从而对激光原理及激光技术有一定的了解。

WGL-6氦氖激光器模式分析实验装置 在激光器的生产与应用中，我们通常需要先知道激光器的模式状况，如精密测量、全息技术等工作需要基横模输出的激光器，而激光器稳频和激光测距等不仅要基横模而且要求单纵模运行的激光器。因此，进行模式分析是激光器的一项基本又重要的性能测试。

HNL-55700多束光纤激光源采用550mm激光管和进口高传输性光纤，通过精密光学分束机构分至七束光纤，每束光纤长度为4米，多为七台迈氏干涉仪提供扩束光源。

WGL-4氦氖激光器系列实验 仪器介绍通过氦氖激光器的装调，改变谐振腔的长度，观察激光模式的变化，来培养学生实验的动手能力。使用共焦球面扫描干涉仪，让学生较直观地观察横模和纵模的频谱分布。测量He-Ne激光器的发散角。

WGL-5半导体激光器实验系列 仪器介绍 通过测量半导体激光器的功率，电压和电流，让学生了解半导体激光器在连续输出下的工作特性。用WGD-6光学多道分析器观测，半导体激光器注入电流小于阈值时发射的荧光，和大于阈值电流时产生激光振荡的谱线变化。

SGD-2单光子计数实验系统 该实验系统，由单光子计数器，半导体制冷系统，外光路光学系统，光功率指示仪，工作软件等组成。系统采用了脉冲高度甄别计数和数字计数技术，具有较高的线性动态范围。输出的数字信号，便于计算机处理，为教师做相关教学提供了必要的实验环境。

XGS-1电子散斑干涉实验系统 电子散斑干涉（ESPI）实验系统借助于粗糙表面信息的携带者——散斑来研究物体离面形变，是计算机图像处理技术、激光技术以及全息干涉技术相结合的一种现代光测技术。激光的高相干性使散斑现象显而易见，采用CCD摄像机，使之可采用计算机处理数据和图像。电子散斑干涉应用广泛，如物体形变测量、无损测量、振动测量等。

XGS-2激光散斑照相实验装置 利用二次曝光散斑图进行物体表面面内位移场的测试，以及由此引伸出来的应变，距离，速度测试，物体内在缺陷和振动分析是散斑效应有前途的应用领域。 实验内容 1、拍摄自由空间散斑和成像散斑图，了解激光散斑现象及其特点 2、掌握二次曝光散斑图的逐点分析和QUANCHANG分析测物体面内位移的方法