欢迎来到天津诺雷信达科技有限公司网站!
  • 单晶少子寿命测试仪
    单晶少子寿命测试仪

    LT-2型单晶少子寿命测试仪 是参考美国A.S.T.M标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量,是半导体的常规测试项目之一。本仪器灵敏度较高,配备有红外光源,可测量包括集成电路级硅单晶在内的各种类型硅单晶,以及经热处理后寿命骤降的硅单晶、多晶磷检棒的寿命测量等。

    更新时间:2020-09-12型号:LT-2型浏览量:101
  • 电容电压特性测试仪
    电容电压特性测试仪

    CV-2000型电容电压特性测试仪 作为组成半导体器件的基本结构的PN结具有电容效应(势垒电容)。加正向偏压时,PN结势垒区变窄,势垒电容变大;加反向偏压时,PN结势垒区变宽,势垒电容变小。

    更新时间:2020-09-12型号:CV-2000型浏览量:79
  • 电容电压特性测试仪
    电容电压特性测试仪

    CV-5000型电容电压特性测试仪 在集成电路特别是MOS电路的生产和开发研制中,MOS电容的C-V测试是极为重要的工艺过程监控测试手段,通过C-V测试达到优化生产过程中的工艺参数,提高IC成品率。

    更新时间:2020-09-12型号:CV-5000型浏览量:136
共 3 条记录,当前 1 / 1 页  首页  上一页  下一页  末页  跳转到第页 
在线客服
电话咨询 13502107024
在线客服